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日立分析儀器推出新的FT160 XRF鍍層分析儀

  • 分類:行業動態
  • 作者:
  • 來源:
  • 發布時間:2020-03-10 14:03
  • 訪問量:

【概要描述】日立高新技術公司(TSE:8036)的全資子公司日立分析儀器(HitachiHigh-Tech Analytical Science)致力于分析和測量儀器的制造和銷售,現推出新型FT160XRF光譜儀,該分析儀提供三種基座配置選擇方案用于納米級鍍層分析。 隨著新型FT160系列在日本的推出,日立分析儀器目前在中國、北美、歐洲、中東和非洲銷售FT160系列鍍層分析儀并提供相關服務。日立推出的該款最新一代鍍層分析儀旨在應對測量小型部件上的超薄鍍層所帶來的挑戰。FT160是一種臺式EDXRF(能量色散x射線熒光)分析儀,配有強大的軟件和硬件,能實現高樣品處理量,且任何操作員均能獲取高質量結果。由于FT160系列專為在生產質量控制中發揮關鍵作用而設計,因此其可在半導體、電路板和電子元件市場中被廣泛應用。 測量納米級的鍍層 ? FT160配置高端部件,可以提供精細結構上的超薄鍍層的元素分析。毛細管聚焦光學鏡能聚焦直徑小于30μm的X射線束,從而在樣品上集中更大強度且其可測量的部件尺寸小于傳統準直器可測量的部件尺寸。高靈敏度、高分辨率日立分析儀器硅漂移探測器(SDD)充分利用光學系統測量微電子和半導體上的納米級鍍層。高精度樣品臺和具備數字變焦功能的高清攝像頭可快速定位樣件,以提高樣品處理量。 日立分析儀器產品經理Matt Kreiner表示:“在之前產品的成功基礎上所推出的FT160能提供重新設計的照明布置以提高零件的可視性并便于定位,且新的配置選擇方案可確保特定應用的最佳性能并為繁忙的測試實驗室提供新的緊湊型基座配置要素。該產品系列硬件和分析能力的不斷發展使我們的客戶更容易在快速發展的微電子領域控制生產。FT160是對我們鍍層儀器綜合系列的補充,這歸功于日立45多年的XRF鍍層分析儀的開發經驗。”

日立分析儀器推出新的FT160 XRF鍍層分析儀

【概要描述】日立高新技術公司(TSE:8036)的全資子公司日立分析儀器(HitachiHigh-Tech Analytical Science)致力于分析和測量儀器的制造和銷售,現推出新型FT160XRF光譜儀,該分析儀提供三種基座配置選擇方案用于納米級鍍層分析。

隨著新型FT160系列在日本的推出,日立分析儀器目前在中國、北美、歐洲、中東和非洲銷售FT160系列鍍層分析儀并提供相關服務。日立推出的該款最新一代鍍層分析儀旨在應對測量小型部件上的超薄鍍層所帶來的挑戰。FT160是一種臺式EDXRF(能量色散x射線熒光)分析儀,配有強大的軟件和硬件,能實現高樣品處理量,且任何操作員均能獲取高質量結果。由于FT160系列專為在生產質量控制中發揮關鍵作用而設計,因此其可在半導體、電路板和電子元件市場中被廣泛應用。

測量納米級的鍍層



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FT160配置高端部件,可以提供精細結構上的超薄鍍層的元素分析。毛細管聚焦光學鏡能聚焦直徑小于30μm的X射線束,從而在樣品上集中更大強度且其可測量的部件尺寸小于傳統準直器可測量的部件尺寸。高靈敏度、高分辨率日立分析儀器硅漂移探測器(SDD)充分利用光學系統測量微電子和半導體上的納米級鍍層。高精度樣品臺和具備數字變焦功能的高清攝像頭可快速定位樣件,以提高樣品處理量。

日立分析儀器產品經理Matt Kreiner表示:“在之前產品的成功基礎上所推出的FT160能提供重新設計的照明布置以提高零件的可視性并便于定位,且新的配置選擇方案可確保特定應用的最佳性能并為繁忙的測試實驗室提供新的緊湊型基座配置要素。該產品系列硬件和分析能力的不斷發展使我們的客戶更容易在快速發展的微電子領域控制生產。FT160是對我們鍍層儀器綜合系列的補充,這歸功于日立45多年的XRF鍍層分析儀的開發經驗。”

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  • 作者:
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  • 發布時間:2020-03-10 14:03
  • 訪問量:
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日立高新技術公司(TSE:8036)的全資子公司日立分析儀器(HitachiHigh-Tech Analytical Science)致力于分析和測量儀器的制造和銷售,現推出新型FT160XRF光譜儀,該分析儀提供三種基座配置選擇方案用于納米級鍍層分析。

 

隨著新型FT160系列在日本的推出,日立分析儀器目前在中國、北美、歐洲、中東和非洲銷售FT160系列鍍層分析儀并提供相關服務。日立推出的該款最新一代鍍層分析儀旨在應對測量小型部件上的超薄鍍層所帶來的挑戰。FT160是一種臺式EDXRF(能量色散x射線熒光)分析儀,配有強大的軟件和硬件,能實現高樣品處理量,且任何操作員均能獲取高質量結果。由于FT160系列專為在生產質量控制中發揮關鍵作用而設計,因此其可在半導體、電路板和電子元件市場中被廣泛應用。

測量納米級的鍍層

 

FT160配置高端部件,可以提供精細結構上的超薄鍍層的元素分析。毛細管聚焦光學鏡能聚焦直徑小于30μm的X射線束,從而在樣品上集中更大強度且其可測量的部件尺寸小于傳統準直器可測量的部件尺寸。高靈敏度、高分辨率日立分析儀器硅漂移探測器(SDD)充分利用光學系統測量微電子和半導體上的納米級鍍層。高精度樣品臺和具備數字變焦功能的高清攝像頭可快速定位樣件,以提高樣品處理量。

 

日立分析儀器產品經理Matt Kreiner表示:“在之前產品的成功基礎上所推出的FT160能提供重新設計的照明布置以提高零件的可視性并便于定位,且新的配置選擇方案可確保特定應用的最佳性能并為繁忙的測試實驗室提供新的緊湊型基座配置要素。該產品系列硬件和分析能力的不斷發展使我們的客戶更容易在快速發展的微電子領域控制生產。FT160是對我們鍍層儀器綜合系列的補充,這歸功于日立45多年的XRF鍍層分析儀的開發經驗。”

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